ATOS: Quét không dán điểm – nhanh, gọn cho chi tiết khó hoặc gấp

Hôm nay RATC sẽ chia sẻ cách khi sử dụng máy quét quang học 3D của ZEISS, làm thế nào để thông qua thuật toán “best-fit (khớp tối ưu)” trong phần mềm ZEISS INSPECT, tận dụng dữ liệu đặc trưng bề mặt của chính vật thể để thay thế điểm tham chiếu, từ đó hoàn thành việc định vị và ghép dữ liệu.

RATC – nhà cung cấp giải pháp chất lượng công nghiệp, là đại lý ủy quyền chính thức của ZEISS. Lĩnh vực kinh doanh bao gồm:
máy đo tọa độ 3 chiều ZEISS (CMM), hệ thống CT X-ray công nghiệp không phá hủy, máy quét 3D quang học, kính hiển vi công nghiệp,...

Vui lòng liên hệ công ty tư vấn để biết thông số và báo giá, hỗ trợ giải quyết toàn diện các vấn đề chất lượng của khách hàng.


Tại sao cần quét không dùng điểm tham chiếu?

Khi sử dụng hệ thống quét quang học 3D ATOS Q của ZEISS, có thể gặp các trường hợp không thể sử dụng điểm tham chiếu, như bề mặt vật thể đặc biệt, kết cấu chi tiết không cho phép dán điểm, hoặc cần quét gấp tại hiện trường (không có thời gian chuẩn bị).

Trong những trường hợp này, có thể lựa chọn phương pháp quét không cần điểm tham chiếu. Cốt lõi của phương pháp này là sử dụng thuật toán “best-fit” trong phần mềm ZEISS INSPECT, tận dụng dữ liệu đặc trưng bề mặt của chính vật thể để thay thế điểm tham chiếu, từ đó hoàn thành việc định vị và ghép dữ liệu.

Làm sạch dữ liệu: Tối ưu kết quả quét

Sử dụng máy quét ATOS Q để quét trực tiếp vật thể mục tiêu, không cần bố trí điểm tham chiếu trước. Mục đích chính của lần quét này là thu thập dữ liệu hình dạng bề mặt cơ bản của vật thể, làm “cơ sở đặc trưng” cho việc định vị ở các bước tiếp theo.

Sau khi hoàn thành lần quét đầu tiên, tiến hành xử lý dữ liệu gốc — loại bỏ dữ liệu nền, nhiễu quét và các dữ liệu không hợp lệ khác; giữ lại các đặc trưng bề mặt quan trọng của vật thể (như cạnh, rãnh, phần lồi dễ nhận diện), nhằm đảm bảo tính chính xác và hiệu quả của dữ liệu.

 Quét lại: Tự động định hướng bằng best-fit

Dựa trên dữ liệu đã được làm sạch từ lần quét đầu, tiến hành quét lại. Lúc này, phần mềm ZEISS INSPECT sẽ tự động sử dụng thuật toán “best-fit” để so khớp chính xác dữ liệu quét mới với các đặc trưng bề mặt của lần quét trước, từ đó hoàn tất việc định hướng mà không cần điều chỉnh thủ công.

Quét hai mặt: Ghép dữ liệu nhiều góc

Nếu cần xoay vật thể để quét hai mặt hoặc nhiều góc khác nhau, có thể lặp lại quy trình trên. Sau mỗi lần quét, sử dụng chức năng “best-fit” trong phần mềm để chọn dữ liệu tham chiếu tương ứng (như các đặc trưng bề mặt hiệu quả của lần quét trước). Hệ thống sẽ tự động tính toán quan hệ chuyển đổi tọa độ và thực hiện ghép nhiều bộ dữ liệu một cách liền mạch (có thể tham khảo video hướng dẫn đi kèm để biết chi tiết thao tác)

Lưu ý

Trong quá trình quét thông thường, điểm tham chiếu đóng vai trò cốt lõi trong việc xác định hệ chuẩn đo: không chỉ giúp nhận diện quỹ đạo di chuyển của thiết bị, kiểm tra độ chính xác hiệu chuẩn, mà còn hỗ trợ chuyển đổi tọa độ nhanh giữa nhiều bộ dữ liệu đo. Nhờ đó, phần mềm ZEISS INSPECT có thể đơn giản hóa tính toán và nâng cao hiệu quả ghép dữ liệu.

Trong trường hợp này, nên sử dụng giá đỡ quét để tránh dán trực tiếp điểm tham chiếu lên chi tiết. Ngoài ra, cần hoàn tất hiệu chuẩn thiết bị trước khi quét, đồng thời giữ thiết bị ổn định trong quá trình quét, hạn chế rung lắc mạnh để đảm bảo độ chính xác của dữ liệu.